Дополнительно

Перейти на сайты производителей:

 

 

Анализ отказов - Sela

MC600i

Анализ отказов - Sela MC600i

Система микроскалывания MC600i - это улучшенная версия MC600 с большей точностью, обеспечивает микроскалывание меньших кусочков подложек до 0,5 мм.

С помощью Sela MC600i можно получить поперечное сечение подложек и их кусочков в полностью автоматическом режиме. Программное обеспечение обеспечивает автоматическую постройку карты и навигацию подложки, а также автоматическую выгрузку для немедленного просмотра подложки. Высокая производительность (одна подложка в 9 минут), высокая точность (менее 0,5 микрона), а также непревзойденное качество поперечных срезов сильно уменьшают затраты времени и денег и на анализ отказов, и на мониторинг процесса производства.

Возможности Sela MC600i:

  • Полностью автоматический программируемый процесс
  • Один скол в 3 минуты
  • Возможность использования маленьких кусочков подложек
  • Механизм крио-замораживания (опция)
  • Оптическое увеличение до 7600 крат (опция)

Выгоды использования Sela MC600i:

  • Увеличивает общую производительность
  • Улучшает анализ выхода годных
  • Улучшает характеризацию
  • Улучшает утилизацию
  • Низкая стоимость обслуживания

EM2

Анализ отказов - Sela EM2

Автоматизированная система трансмиссионной и сканирующей электронной микроскопии для поперечных сечений, а также планового обзора для широкого спектра использования. С использованием опции крио-охлаждения при срезах можно подготавливать образцы как кристаллических, так и аморфных материалов. Выходной образец получается на штырьке, который можно использовать повторно.

Возможности Sela EM2:

  • Гибкий процесс "сухого скола" с криогенным охлаждением
  • Поддерживает как кристаллические, так и аморфные материалы
  • Вид сверху и вид сбоку
  • Держатель на 300 мм позволяет просматривать и маркировать всю подложку целиком
  • Навигация по всей площади подложки
  • Микроскоп с большим увеличением
  • Активный антивибрационный стол

Выгоды использования Sela MC2:

  • Возможно использования в большинстве процессов, в т.ч. специфических
  • Можно соединять с системой ионной зачистки
  • Увеличивает общую производительность
  • Улучшает анализ выхода годных
  • Улучшает характеризацию
  • Улучшает утилизацию
  • Низкая стоимость обслуживания
  • Возможно многократное использование кусочков на трансмиссионной электронной микроскопии

Xact

Анализ отказов - Sela Xact

Это первая система трансмиссионной электронной микроскопии с использование запатентованной технологии адаптивной ионной зачистки, что дает возможность сильно снизить время анализа и увеличить продуктивность. Адаптивная ионная зачистка, по сравнению с традиционной фокусированной ионной зачисткой, позволяет уменьшить толщину образцов до 50 нанометров и менее с высокой точностью, без нежелательных эффектов (например, клиньев) и высокой производительностью.

В системе Sela Xact используется двухлучевая комбинация, что обеспечивает более точное определение конечной точки и чистоту без нежелательных эффектов.

 

Контакты | For partners (in English) © TBS - Technology & Business Solutions