Мы на карте
Для получения информации оставьте свои данные и технический эксперт свяжется с вами
Обратите внимание, что ответ специалиста может занять некоторое время.
×
Оборудование Компоненты Сервис
Москва, ул. Киевская, д.7

Оптическая инспекция

Подбор оборудования
Ficontec IL2000
Германия

Ficontec IL2000

Система предназначена для инспекции чипов, а также инспекции граней после на ...

SCREEN VM-1020/1030
Япония

SCREEN VM-1020/1030

Системы спектроскопического измерения толщины пленки VM-1020/1030. Модели им ...

SCREEN ZI-2000
Япония

SCREEN ZI-2000

Система анализа структур на полупроводниковых пластин ZI-2000. Система ZI-20 ...

SCREEN RE-3100/3300
Япония

SCREEN RE-3100/3300

Система эллипсометрического измерения толщины пленки RE-3100/3300. Данные си ...

SCREEN VM-2200/3200
Япония

SCREEN VM-2200/3200

Система спектроскопического измерения толщины пленки VM-2200/3200. Компактны ...

SCREEN VM-1200/1300
Япония

SCREEN VM-1200/1300

Системы спектроскопического измерения толщины пленки VM-1200/1300. Представл ...

HSEB THOR
Германия

HSEB THOR

Высокопроизводительная автоматизированная система для осмотра кромки пластин ...

HSEB WOTAN
Германия

HSEB WOTAN

Высокопроизводительная автоматизированная система оптической инспекции ...

HSEB ODIN
Германия

HSEB ODIN

Новейшая система полностью автоматизированного оптического контроля (AOI) фр ...

HSEB MIT 301
Германия

HSEB MIT 301

Модуль макро-инспекции пластин с ручной загрузкой. Доступна версия для ...

HSEB Macro Only / Edge Only Tools
Германия

HSEB Macro Only / Edge Only Tools

Узкоспециализированные инструменты: Макроинспекция/Инспекция кромки пластин ...

HSEB Axiotron 2 CSM VIS-UV
Германия

HSEB Axiotron 2 CSM VIS-UV

Модификация микроскопов серии Axiotron 2 с возможностью софокусной ахроматич ...

HSEB Axiotron 2
Германия

HSEB Axiotron 2

Новейший микроскоп, предназначенный для работы в чистых комнатах с пластинам ...

HSEB Axiospect 301
Германия

HSEB Axiospect 301

300-мм система оптического контроля и анализа фронтальной и тыльной сто ...

HSEB Axiospect 202
Германия

HSEB Axiospect 202

150/200-мм система для оптического контроля и анализа фронтальной и тыльной ...

Idonus SMA микроскоп
Швейцария

Idonus SMA микроскоп

Цифровой микроскоп с двумя независимыми оптическими системами.  Поз ...

Системы оптической инспекции предназначены для спектроскопического/эллипсометрического измерения толщины пленки, анализа структур на полупроводниковых пластинах, анализа качества и контроля отклонений. Система автоматической оптической инспекции позволяет делать полный осмотр чистых пластин и пластин с нанесенным рисунком, включая кромку и тыльную сторону‎. Данный вид оборудования позволяет измерять скорость травления, а также осуществлять межоперационный контроль и производить измерение топологии.
Для получения информации по установке оставьте свои данные и технический эксперт свяжется с вами
Обратите внимание, что ответ специалиста может занять некоторое время.
×
Наверх