Мы на карте
Для получения информации оставьте свои данные и технический эксперт свяжется с вами
Обратите внимание, что ответ специалиста может занять некоторое время.
×
Оборудование Компоненты Сервис
Москва, ул. Киевская, д.7

ИК инспекция

Подбор оборудования
Idonus WBI
Швейцария

Idonus WBI

Установка инспекции пластин в ИК-свете WBI оснащена источником ИК света и ко ...

Idonus ИК микроскоп
Швейцария

Idonus ИК микроскоп

ИК Микроскоп оснащен объективом с большой глубиной резкозти. 3х шаговый зум ...

Метод ИК инспекции позволяет проверять однородность сращивания полупроводниковых пластин и отдельных кристаллов. ИК инспекция элементов позволяет выявить пустоты и полости, которые свидетельствуют о плохом сращивании, а также произвести измерение скорости травления скрытых структур. Для прецизионного контроля вышеописанных характеристик служит ИК микроскоп.



Для получения информации по установке оставьте свои данные и технический эксперт свяжется с вами
Обратите внимание, что ответ специалиста может занять некоторое время.
×
Наверх