Оборудование Компоненты Сервис |
Москва, Нижний Сусальный пер. 5, стр. 4
|
ИК инспекция


Idonus WBI
Установка инспекции пластин в ИК-свете WBI оснащена источником ИК света и ко ...


Idonus ИК микроскоп
ИК Микроскоп оснащен объективом с большой глубиной резкозти. 3х шаговый зум ...
Метод ИК инспекции позволяет проверять однородность сращивания полупроводниковых пластин и отдельных кристаллов. ИК инспекция элементов позволяет выявить пустоты и полости, которые свидетельствуют о плохом сращивании, а также произвести измерение скорости травления скрытых структур. Для прецизионного контроля вышеописанных характеристик служит ИК микроскоп.