Мы на карте
Для получения информации оставьте свои данные и технический эксперт свяжется с вами
Нажимая кнопку «Отправить», я даю свое согласие на обработку моих персональных данных, в соответствии с Федеральным законом №152-ФЗ, на условиях и для целей, определенных в Согласии на обработку персональных данных.
Обратите внимание, что ответ специалиста может занять некоторое время.
×
Оборудование Компоненты Сервис
Москва, Киевская, 7

Оптическая инспекция

Подбор оборудования
MicroProf TL
Германия

MicroProf TL

Оптическая метрология при термической нагрузке ...

MicroProf FS
Германия

MicroProf FS

Автоматическая гибридная метрология для производства полупроводников ...

MicroProf FE
Германия

MicroProf FE

Полностью автоматизированная метрология пластин для различных этапов полупр ...

Idonus SMA микроскоп
Швейцария

Idonus SMA микроскоп

Цифровой микроскоп с двумя независимыми оптическими системами.  Поз ...

Системы оптической инспекции предназначены для спектроскопического/эллипсометрического измерения толщины пленки, анализа структур на полупроводниковых пластинах, анализа качества и контроля отклонений. Система автоматической оптической инспекции позволяет делать полный осмотр чистых пластин и пластин с нанесенным рисунком, включая кромку и тыльную сторону‎. Данный вид оборудования позволяет измерять скорость травления, а также осуществлять межоперационный контроль и производить измерение топологии.
Для получения информации по установке оставьте свои данные и технический эксперт свяжется с вами
Нажимая кнопку «Отправить», я даю свое согласие на обработку моих персональных данных, в соответствии с Федеральным законом №152-ФЗ, на условиях и для целей, определенных в Согласии на обработку персональных данных.
Обратите внимание, что ответ специалиста может занять некоторое время.
×
Наверх