Зондовые измерения

Подбор оборудования


MPI TS150
Зондовая станция MPI TS 150 предназначена для точных и воспроизводимых измер ...
Установлено в России:
18


MPI TS150THZ
Зондовая станция MPI TS150-THZ Зондовая станция TS150-THZ компании MPI пре ...
Установлено в России:
1


MPI TS200
Зондовая станция MPI TS 200 предназначена для точных и воспроизводимых измер ...
Установлено в России:
3


MPI TS50
MPI TS50 50-мм ручная зондовая измерительная станция Зондовая станция MPI ...
Установлено в России:
2


MPI TS2000SE
MPI TS2000-SE Автоматическая зондовая измерительная станция, 200 мм с систем ...
Установлено в России:
3


MPI TS3000-SiPH
Автоматическая зондовая станция для пластин диаметром 300 мм специально разр ...


MPI TS150-AIT
Зондовые станции TS150-AIT и TS200-THZ расширяют линейку станций для измерен ...
Установлено в России:
3


MPI TS200-THZ
Зондовые станции TS150-AIT и TS200-THZ расширяют линейку станций для измерен ...


MPI TS3000
TS3000 – это автоматическая зондовая станция от компании MPI для измерений н ...


MPI TS300SE
Ручная измерительная зондовая станция MPI TS300 с функцией защиты ShielDEnvi ...


MPI TS300
Зондовая станция MPI TS 300 предназначена для точных и воспроизводимых измер ...
Установлено в России:
1


MPI TS2500
Автоматизированная зондовая станция для пластин размером до 200 мм. Для пров ...


MPI TS150HP
Ручные зондовые станции для выполнения измерений высокой мощности компании M ...


MPI TS2000
MPI TS2000 Автоматическая зондовая измерительная станция, 200 мм. Специал ...
Установлено в России:
1


MPI TS200SE
MPI TS200-SE зондовая станция Зондовая станция MPI TS200-ShieldEnvironmen ...


ResMap 168
Автоматическая система четырехзондового измерения поверхностного сопротивлен ...
Установлено в России:
3


ResMap 178
Автоматическая система четырехзондового измерения поверхностного сопротивлен ...
Установлено в России:
2
Зондовая станция  предназначена для точных и воспроизводимых измерений постоянных (DC/CV), высокочастотных (RF) сигналов и сигналов большой мощности (High Power). Станция имеет широкие возможности применения для таких нужд, как снятие характеристик и моделирование устройств, оценка надежности кристаллов на подложке, анализ дефектов технологии ИС, МЭМС, измерения высокой мощности,  тренировки полупроводниковых устройств на пластине – испытания на термостойкость, на воздействие холода, продолжительные испытания.