Мы на карте
Для получения информации оставьте свои данные и технический эксперт свяжется с вами
Нажимая кнопку «Отправить», я даю свое согласие на обработку моих персональных данных, в соответствии с Федеральным законом №152-ФЗ, на условиях и для целей, определенных в Согласии на обработку персональных данных.
Обратите внимание, что ответ специалиста может занять некоторое время.
×
Компания ТБС
Оборудование Компоненты Сервис
Москва, Нижний Сусальный пер. 5, стр. 4
Меню
главнаяоборудованиеинжинирингсервис
комплектующие
производителиреализованные проекты
Тестирование устройств кремниевой фотоники на пластине

Тестирование устройств кремниевой фотоники на пластине

Решения для измерения электрических параметров силовых устройств на пластине

Решения для измерения электрических параметров силовых устройств на пластине

Держатель для печатных плат к зондовым станциям

Держатель для печатных плат к зондовым станциям

Файл PDF (2.9 МБ)

Временное сращивание пластин – ключевая технология для МЭМС-устройств

Временное сращивание пластин – ключевая технология для МЭМС-устройств

Файл PDF (1.1 МБ)

Зондовая станция MPI TS150 THZ

Зондовая станция MPI TS150 THZ

Файл PDF (449 КБ)

СОЗДАНИЕ УСПЕШНОГО БИЗНЕСА ЗА ДВА ГОДА: ОПЫТ MPI

СОЗДАНИЕ УСПЕШНОГО БИЗНЕСА ЗА ДВА ГОДА: ОПЫТ MPI

Файл PDF (1.3 МБ)

Плазменные технологии и области применения. Bosch Process на оборудовании фирмы CORIAL.

Плазменные технологии и области применения. Bosch Process на оборудовании фирмы CORIAL.

Файл PDF (860.8 КБ)

ГЛУБОКОЕ ТРАВЛЕНИЕ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ

ГЛУБОКОЕ ТРАВЛЕНИЕ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ

Файл PDF (3.4 МБ)

Руководство для быстрой настройки ВЧ головок TITAN™

Руководство для быстрой настройки ВЧ головок TITAN™

Файл PDF (1.2 МБ)

Руководство по выбору зондовых головок для зондовых станций MPI

Руководство по выбору зондовых головок для зондовых станций MPI

Файл PDF (1 МБ)

Основы Измерений СВЧ на подложках

Основы Измерений СВЧ на подложках

Файл PDF (18.5 МБ)

Особенности измерений на полупроводниковых подложках и калибровочных методов в СВЧ диапазоне, основанных на планарных линиях

Особенности измерений на полупроводниковых подложках и калибровочных методов в СВЧ диапазоне, основанных на планарных линиях

Файл PDF (5.1 МБ)

Инновационная Экспонирующая оптика SUSS MO

Инновационная Экспонирующая оптика SUSS MO

Новая и инновационная экспонирующая оптика для устано ...

Лампа с UV-LED – технологии будущего в устройствах экспонирования

Лампа с UV-LED – технологии будущего в устройствах экспонирования

Новая, инновационная лампа с UV-LED от компании SUSS MicroTec дл ...

Высокоточная система нанесения от фирмы SUSS

Высокоточная система нанесения от фирмы SUSS

Точное нанесение фоторезиста является одним из ключев ...

Страница: 1 2
картинка495 287 8577
   картинкаinfos@tbs-semi.ru
лого
Наш адрес
105064, Москва, Нижний Сусальный пер. 5, стр. 4
картинкаНайти на карте
Обратная связь
Нажимая кнопку «Отправить», я даю свое согласие на обработку моих персональных данных, в соответствии с Федеральным законом №152-ФЗ,
на условиях и для целей, определенных в Согласии на обработку персональных данных.

© 2024. Фирма "ТБС". Поставщик оборудования для производства полупроводниковых устройств

Наверх