Мы на карте
Для получения информации оставьте свои данные и технический эксперт свяжется с вами
Нажимая кнопку «Отправить», я даю свое согласие на обработку моих персональных данных, в соответствии с Федеральным законом №152-ФЗ, на условиях и для целей, определенных в Согласии на обработку персональных данных.
Обратите внимание, что ответ специалиста может занять некоторое время.
×
Оборудование Компоненты Сервис
Москва, Киевская, 7

Система оптической метрологии при термической нагрузке FRT MicroProf TL

Германия
  • картинка

Оптическая метрология при термической нагрузке

Производитель: FRT
Страна-производитель: Германия

Основные возможности:

  • Температурный контроль от — 80 °С до 400 °С (при наличии системы охлаждения с жидким азотом)
  • Быстрый нагрев и охлаждение
  • Однородное распределение температуры на поверхности
  • Топографические сенсоры FRT
  • Современный дизайн

Подойдет ли эта установка для моей технологии?Консультация эксперта

MicroProf® TL – система для проведения полностью автоматизированных измерений трехмерных поверхностей. В отличие от других приборов серии MicroProf®, система TL оснащена полностью интегрированным термическим устройством для нагрева и охлаждения, а также датчиком двухмерной деформации microDAC® от компании Chemnitzer Werksto™meckanik GmbH. Благодаря им при помощи MicroProf® TL можно определять характеристики боковых и вертикальных деформаций образцов при температурной нагрузке – это позволяет определять поведение компонентов в рабочих условиях или моделировать различные этапы обработки. Система также может запоминать целые наборы параметров, что упрощает работу с температурными циклами в ходе проведения замеров.

Программное обеспечение Acquire Automation XT позволяет MicroProf® TL в полностью автоматическом режиме работать с температурными профилями, в которых указываются целевые температуры, диапазоны и время выдержки. Кроме этого, в рамках процесса нагревания или охлаждения можно задавать точки, по которым будет определяться рельеф и деформация. В программе также предусмотрен журнал температур, а по запросу система может быть оснащена вторичным температурным датчиком, который измеряет температуру в заданных точках образца



Стандартная конфигурация


Характеристики

  • Диапазон температур от 10°С1 до 400°С
  • Быстрый нагрев и охлаждение
  • Равномерное распределение температуры по поверхности
  • Датчик(и) рельефа
  • Корпус по современным промышленным стандартам
  • Устойчивая гранитная конструкция с исключительными демпфирующими свойствами
  • Опциональный датчик деформации CWM2

1 при установке системы охлаждения сжатым сухим воздухом
2 Chemnitzer Werksto™mechanik GmbH


Сферы применения

  • Acquire Automation XT
  • Проектирование и моделирование печатных плат
  • 3D интегральные схемы, MEMS, многослойные пластины
  • Анализ ошибок


ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА MICRODAC®TL ДЛЯ ДВУХМЕРНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ

Наряду с системой внеплоскостных замеров (для определения изгибов) может устанавливаться система microDAC®TL – с ее помощью можно определять смещения по плоскости как отдельных электрических компонентов, так и целых сборок. Благодаря высокоточной камере поля общей и локальной деформации могут измеряться с точностью до 50 нм.

Этот функционал позволяет определять слабые места электронных блоков при внутренней или внешней нагрузке – например, температурные деформации или искажения при установке.

Преимущества системы полностью раскрываются при использовании в комплексе с численным моделированием – она позволяет не только использовать термомеханические свойства материалов (коэффициенты термического расширения) в качестве вводных данных для моделирования, но и проверять результаты моделирования при помощи деформаций.


FRT MicroProf TL_1.jpg



FRT MicroProf TL. Определение изгиба чипа относительно печатной платы при помощи хроматического датчика.jpg
Определение изгиба чипа относительно печатной платы при помощи хроматического датчика

FRT MicroProf TL. Определение поля внеплоскостной деформации (изгиба) при помощи хроматического датчика.jpg
FRT MicroProf TL. Определение поля двухмерной деформации при помощи microDAC TL.jpg
Определение поля внеплоскостной деформации (изгиба) при помощи хроматического датчика
Определение поля двухмерной деформации при помощи microDAC® TL


ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ FRT

  • Acquire
  • Acquire Automation XT
  • Mark III

    Опции:
  • Интерфейс SECS/GEM
  • Управление CWM VEDDAC
  • CWM VEDDAC

АППАРАТНОЕ ОСНАЩЕНИЕ FRT

  • Датчики рельефа
  • Термическое устройство

    Опции:
  • CWM: датчик для определения двухмерной деформации microDAC® TL


Спасибо!
Мы направили вам на электронный адрес
подробное техническое описание оборудования microprof tl


Получить брошюру на почту
Оставьте свой электронный адрес и мы вышлем вам
подробное техническое описание оборудования microprof tl
Нажимая кнопку «Получить», я даю свое согласие на обработку моих персональных данных, в соответствии с Федеральным законом №152-ФЗ, на условиях и для целей, определенных в Согласии на обработку персональных данных.
×
Для получения информации по установке оставьте свои данные и технический эксперт свяжется с вами
Нажимая кнопку «Отправить», я даю свое согласие на обработку моих персональных данных, в соответствии с Федеральным законом №152-ФЗ, на условиях и для целей, определенных в Согласии на обработку персональных данных.
Обратите внимание, что ответ специалиста может занять некоторое время.
×
Наверх