Оборудование Компоненты Сервис |
Москва, Нижний Сусальный пер. 5, стр. 4
|
Система оптической метрологии при термической нагрузке FRT MicroProf TL
Оптическая метрология при термической нагрузке
Основные возможности:
- Температурный контроль от — 80 °С до 400 °С (при наличии системы охлаждения с жидким азотом)
- Быстрый нагрев и охлаждение
- Однородное распределение температуры на поверхности
- Топографические сенсоры FRT
- Современный дизайн
MicroProf® TL – система для проведения полностью автоматизированных измерений трехмерных поверхностей. В отличие от других приборов серии MicroProf®, система TL оснащена полностью интегрированным термическим устройством для нагрева и охлаждения, а также датчиком двухмерной деформации microDAC® от компании Chemnitzer Werkstomeckanik GmbH. Благодаря им при помощи MicroProf® TL можно определять характеристики боковых и вертикальных деформаций образцов при температурной нагрузке – это позволяет определять поведение компонентов в рабочих условиях или моделировать различные этапы обработки. Система также может запоминать целые наборы параметров, что упрощает работу с температурными циклами в ходе проведения замеров.
Программное обеспечение Acquire Automation XT позволяет MicroProf® TL
в полностью автоматическом режиме работать с температурными профилями, в которых указываются целевые температуры, диапазоны и время выдержки. Кроме этого, в рамках процесса нагревания или охлаждения можно задавать точки, по которым будет определяться рельеф и деформация. В программе также предусмотрен журнал температур, а по запросу система может быть оснащена вторичным температурным датчиком, который измеряет температуру в заданных точках образца
Стандартная конфигурация
Характеристики
- Диапазон температур от 10°С1 до 400°С
- Быстрый нагрев и охлаждение
- Равномерное распределение температуры по поверхности
- Датчик(и) рельефа
- Корпус по современным промышленным стандартам
- Устойчивая гранитная конструкция с исключительными демпфирующими свойствами
- Опциональный датчик деформации CWM2
1 при установке системы охлаждения сжатым сухим воздухом
2 Chemnitzer Werkstomechanik GmbH
Сферы применения
- Acquire Automation XT
- Проектирование и моделирование печатных плат
- 3D интегральные схемы, MEMS, многослойные пластины
- Анализ ошибок
ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА MICRODAC®TL ДЛЯ ДВУХМЕРНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ
Наряду с системой внеплоскостных замеров (для определения изгибов) может устанавливаться система microDAC®TL – с ее помощью можно определять смещения по плоскости как отдельных электрических компонентов, так и целых сборок. Благодаря высокоточной камере поля общей и локальной деформации могут измеряться с точностью до 50 нм.
Этот функционал позволяет определять слабые места электронных блоков при внутренней или внешней нагрузке – например, температурные деформации или искажения при установке.
Преимущества системы полностью раскрываются при использовании в комплексе с численным моделированием – она позволяет не только использовать термомеханические свойства материалов (коэффициенты термического расширения) в качестве вводных данных для моделирования, но и проверять результаты моделирования при помощи деформаций.
|
|
Определение поля внеплоскостной деформации (изгиба) при помощи хроматического датчика |
Определение поля двухмерной деформации при помощи microDAC® TL |
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ FRT
- Acquire
- Acquire Automation XT
- Mark III
Опции:- Интерфейс SECS/GEM
- Управление CWM VEDDAC
- CWM VEDDAC
АППАРАТНОЕ ОСНАЩЕНИЕ FRT
- Датчики рельефа
- Термическое устройство
Опции:- CWM: датчик для определения двухмерной деформации microDAC® TL